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技術(shù)文章
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技術(shù)文章
2018-417
隨著電子技術(shù)、計(jì)算機(jī)技術(shù)、微加工技術(shù)以及新型傳感器和大量量存儲(chǔ)技術(shù)的發(fā)展，高速高清相機(jī)以其、智能、畫面清晰穩(wěn)定的優(yōu)勢(shì)已經(jīng)逐漸成為安防監(jiān)控、智能交通的主流設(shè)備，為智能交通系統(tǒng)能夠獲取更清晰圖像做出了巨大貢獻(xiàn)。縱觀行業(yè)發(fā)展，隨著智能交通技術(shù)的不斷提升，高速相機(jī)在其中有著重要的應(yīng)用，為智能交通系統(tǒng)能夠獲取清晰圖像做出了很大的貢獻(xiàn)。可以說獲得高速高清工業(yè)相機(jī)的助陣，智能交通如虎添翼。在工業(yè)相機(jī)采集抓拍的過程中，可能會(huì)遇到一些技術(shù)問題。車輛的測(cè)速以及駕駛員的駕駛行為成像都是智能交通所涉...
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LIF（LaserInducedFluorescence）與PLIF（PlanarLaserInducedFluorescence）是一種廣泛用于液態(tài)、氣態(tài)等物質(zhì)燃燒場(chǎng)中各種組分濃度與溫度場(chǎng)分析的重要分析方法，由于它是采用光學(xué)非接觸式測(cè)量，同時(shí)又具有很高的靈敏度以及時(shí)間與空間分辨率，因此很受廣大科研人員的歡迎。LIF&PLIF診斷系統(tǒng)詳細(xì)介紹目前，LIF以及PLIF的主要應(yīng)用領(lǐng)域包括：過程工程學(xué)：例如攪拌器的混合，加熱以及冷卻系統(tǒng)生物醫(yī)藥工程學(xué)流體力學(xué)：擾動(dòng)混合，熱傳遞模型，...
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針對(duì)激光加工過程中普遍存在的材料碎屑對(duì)功率測(cè)量探頭污染與損壞，影響其使用壽命和測(cè)量精度的情況，Ophir專門設(shè)計(jì)了保護(hù)5000W和10KW探頭的帶有shutter的保護(hù)罩，以保護(hù)您昂貴的功率探頭免受污染。這種保護(hù)裝置可以有效的保護(hù)探頭表面的吸收層免受加工材料碎片的污染和損壞。保護(hù)罩可以在電磁操控下，隨時(shí)開啟和關(guān)閉快門。保護(hù)罩需要通過探頭前邊的法蘭和探頭連接在一起。型號(hào)5000W、10KW帶有Shutter的保護(hù)罩（a）使用保護(hù)探頭免受加工過程材料碎屑的污染支持探頭5000W和...
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光譜式測(cè)量為CCFL、LED背光LCD及OLED等平板顯示技術(shù)提供了zui高精度的亮度、色度測(cè)量?，F(xiàn)有的光譜式測(cè)量的主要不足是需要很長(zhǎng)的測(cè)試時(shí)間。PhotoResearch的A-TAKT™系列光譜式輻射度計(jì)彌補(bǔ)了這一不足，實(shí)現(xiàn)了光譜式精度的實(shí)時(shí)產(chǎn)線測(cè)試。A-TAKT™系列包含三款——V-7HS、V-7WD和V-6AQL，針對(duì)FPD產(chǎn)線測(cè)試不同測(cè)試應(yīng)用。具有如下總的特點(diǎn)：特點(diǎn)優(yōu)勢(shì)采用制冷型CCD探測(cè)器有效抑制暗噪聲及雜散光；可調(diào)取、使用測(cè)試對(duì)象的圖像，不...
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直接和間接探測(cè)針對(duì)不同的x射線應(yīng)用，不管是影像，還是光譜，Andor都可以提供全面的CCD探測(cè)系統(tǒng)。根據(jù)應(yīng)用和能量不同，這些系統(tǒng)可以放置在真空內(nèi)使用，或者通過法蘭和真空腔相連，也可以是單獨(dú)使用。另外，如果您的應(yīng)用需要對(duì)x射線進(jìn)行間接探測(cè)，Andor也可以提供各種光纖耦合的CCD相機(jī).Andorx射線探測(cè)方案有益于如下各種應(yīng)用：X射線/中子斷層掃描X射線光譜X射線顯微X射線光斑檢測(cè)X射線衍射X射線平板印刷術(shù)X射線地形學(xué)等離子體研究醫(yī)療影像湯姆森散射X射線可以大致可以分為幾個(gè)范圍...
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